オムロン続伸、半導体の高速自動検査装置開発で生成ＡＩ領域での拡販期待膨らむ

　オムロン<6645.T>が続伸した。２１日、高速３Ｄ検査を可能とするＣＴ型Ｘ線自動検査装置３モデルを開発したと発表。生成ＡＩの普及を背景とした情報量の急増に伴って、回路線幅の微細化と３次元実装化が進む先端半導体の生産品質向上につながる装置とあって、今後の販売拡大と業績へのポジティブな影響を期待した買いを集めたようだ。

　開発した装置は生産ラインに負荷を掛けない高速検査を実現し、半導体の生産歩留まりの改善につなげる。独自のＡＩ技術を採用し、熟練作業者による専門スキルに頼ることなく検査プログラムの作成を自動化する。２０２４年２月以降に順次、発売する予定。

出所：MINKABU PRESS